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HAST非飽和高壓加速試驗機
HAST非飽和高壓加速試驗機

HAST非飽和高壓加速試驗機 HAST非飽和高壓加速試驗機適用于國防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快

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HAST非飽和高壓加速試驗機

   HAST非飽和高壓加速試驗機適用于國防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間.

一、 產(chǎn)品名稱(chēng)型號: 非飽和壓力壽命試驗箱(Zh-HAST)

二、 試樣限制 本試驗設備禁止:

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。


三、尺寸:

450×600 mm(φ×D)圓形試驗箱,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象。


四、性能:
1.測試環(huán)境條件4.2. 測試方法 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、
2. 溫度范圍 105℃ → +132℃. (控制點(diǎn))
3. 溫度波動(dòng)度 ±0.5℃.
4. 溫度偏差 ±2.0℃.
5. 濕度范圍 75% ~ 100 %R.H . (控制點(diǎn))
6. 濕度波動(dòng)度 ±2.5 %R.H.
7. 濕度均勻度 ±5.0%.
8. 壓力范圍 0.5~2㎏/㎝2 (0.05~0.196 MPa) (控制點(diǎn))
9. 升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min .
10. 升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min
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